测试中心现代仪器分析系列讲座之七十一

测试中心关于举办飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用讲座的通知

各有关单位：

    为帮助广大师生更好地了解飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用，提高理论知识及应用技术水平。测试中心拟于2018年4月19日（周四下午）在测试大楼420讲学厅举办飞行时间二次离子质谱的最新进展与应用讲座。现将有关事宜通知如下：

一、会议形式及内容

时间：2018年4月19日（星期四15：00 – 16：00）

地点：中山大学测试大楼420讲学厅

报告人：高聚宁

主持人：谢方艳高级实验师

报告人简介：

    1997年毕业于中国科学院北京真空物理开放实验室（现凝聚态物理中心纳米物理与器件实验室），主要研究课题为纳米物理与原子操纵。2002年开始进行TOF-SIMS在中国的推广工作。现为德国IONTOF公司中国代表处（北京艾飞拓科技有限公司）总经理。

二、参会人员

    各学院感兴趣的老师和学生。

    请各单位相关人员依时参加，并于4月17日之前将参会人员信息反馈至测试中心办公室马老师邮箱。

联系人：马剑兰84115812。

电子邮箱：1784213002@qq.com

测试中心

2018年4月13日