测试中心现代仪器分析系列讲座之七十二

测试中心关于举办XPS原理、数据处理及实验要点等讲座的通知

各有关单位：

    为帮助广大师生更好地了解X射线光电子能谱表面分析技术，提高理论知识及应用技术水平。测试中心拟于2018年5月7日（周一下午）在测试大楼420讲学厅举办XPS原理、数据处理及实验要点、TOF-SIMS的大接收角特点及在材料表征中的应用讲座。现将有关事宜通知如下：

一、会议形式及内容

时间：2018年5月7日（星期一14：45 – 17：15）

地点：中山大学测试大楼420讲学厅

报告人：盛世善研究员、鲁德凤经理

主持人：谢方艳博士、高级实验师

报告人简介：

    盛世善研究员来自于中科院大连化学物理研究所催化基础国家重点实验室，是国家标准化委员会表面分析分技术委员会委员，《催化学报》等杂志审稿人，国内几所高校特聘教授。毕业于复旦大学物理化学专业，1978年起涉及表面科学领域，1993-1994年德国弗朗和费协会界面技术与生物工程研究所访问学者，从事微波吸收材料、燃料电池电极、电催化、多相催化反应、无机膜材料与应用、膜反应器及催化材料原位表征技术等研究。

    盛世善研究员长期以来一直是全国表面分析会议和光电子能谱培训的特邀专家，对表面分析方法原理、仪器构造、谱图采集、数据分析等方面有很高的造诣。

报告安排：

二、参会人员

    各学院感兴趣的老师和学生。

    请各单位相关人员依时参加，并于5月6日之前将参会人员信息反馈至测试中心办公室马老师邮箱。

联系人：马剑兰84115812。

电子邮箱：1784213002@qq.com

测试中心

2018年5月3日