热场发射环境扫描电镜

▲ 型号：Quanta 400F    ▲ 生产厂家：FEI/OXFORD

一、主要技术指标

1、电镜的分辨率：2nm@30kV高真空、低真空、环境真空；3.5nm@3kV低真空

2、放大倍数：20~200,000

3、扫描透射(STEM)分辨率：1.5nm@30kV

4、能谱元素分析范围：5B~92U

二、应用范围

        Quanta 400FEG场发射扫描电子显微镜有三种成像模式，高真空模式、低真空模式和环境扫描模式，可以实现对各种样品的表面微观结构进行观察分析。

        本仪器还配有INCA X-射线能谱仪，可对样品表面进行实时元素分析，元素分析范围为4Be~92U。其中的线扫描和面扫描模式可以观察形貌的同时得出元素在线或面上的分布图。        

        该仪器上是集多领域手段于一体的显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中都有广泛的应用。

三、样品要求

        1、样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无磁性，无挥发性。

        2、样品须为干燥的固态样品（片状、块状或粉末）。块状样品尽量小（1×1×2 mm，宽度和高度均不可超过5cm）；

        3、在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染，不可用手触摸样品表面；

        4、扫描样品需导电，不导电的样品需喷镀处理，请预约的同学务必提前一天送样。能谱样品一般需要压片制样，请电话咨询。

四、联系方式

程老师、许老师，020-84110783