300 kV场发射透射电镜(F30)

发布人：唐建锋 发布日期：2021-12-27

 

仪器型号：FEI Tecnai G2 F30

放置地点：测试大楼125

联系人：梁超伦老师、董鑫老师、孙晶莹老师、黄烘老师，

        020-84110195，tcwx@mail.sysu.edu.cn

Ø性能指标：
•场发射电子枪
•加速电压：300 kV
•HRTEM点分辨率：0.205 nm
•HAADF-STEM点分辨率：0.20 nm
•EELS能量分辨率：1.2 eV
•EDS能量分辨率：126 eV
Ø主要功能
•BF, DF，SAED, HRTEM
•HAADF-STEM
•STEM-EDS/EELS MAPPING
•EFTEM
Ø主要应用：
         FEI Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜可提供纳米材料的微观结构、成分分布、电子结构和化学环境等信息，广泛用于无机化合物、聚合物、金属、陶瓷矿物等各种纳米材料的内部结构表征分析。