活动回顾 | 华南理工大学—中山大学电子显微技术系列交流会首场活动成功举办

       10月23日下午，“华南理工大学—中山大学电子显微技术系列交流会”首场活动在华南理工大学电子显微中心举行。此次会议由中山大学分析测试中心与华南理工大学电子显微中心共同发起，分析测试中心赵文霞研究员主持。

       电子显微中心技术主管石文首先介绍了中心的人员队伍、设备配置与运行服务情况。随后，四位电镜技术人员依次作专题报告，议题覆盖球差电镜成像方法、电子束敏感材料表征、敏感材料的冷冻电镜技术实践与超薄切片制样方法等。

       分析测试中心黄亦作题为“基于球差电镜的最优明场成像及电子叠层成像”的报告，系统阐释了OBF-STEM与电子叠层成像在相位恢复与低剂量成像中的方法优势。电子显微中心蒋亦岚以“电子束敏感材料的透射电镜表征”为题，从电子辐照损伤的主要机理出发，梳理了影响辐照损伤的关键参数，介绍了低剂量STEM成像的工作流程，并结合典型案例分享了参数权衡与采集策略的实操经验。分析测试中心黄淑瑶的“敏感材料的冷冻电镜表征”聚焦设备配置与技术能力，重点分享了电子敏感及空气敏感材料表征方法的摸索过程。报告还结合实际测试经验，讨论了不同敏感体系在制样与成像条件上的适配策略。电子显微中心袁俊作“从样品到图像：超薄切片技术在TEM制样中的实践与案例”的报告，涵盖超薄切片技术概述、切片流程详解与典型案例。

       在参观交流环节，双方围绕电镜的技术队伍建设、开放共享机制、方法开发协作以及设备维护经验等话题展开讨论，并就后续在成像方法比对、制样技术互通和技术培训等合作方向交换了意见。

       赵文霞在总结发言中对华南理工大学电子显微中心的精心组织表示感谢。她指出，两校电镜平台在设备体系与技术积累上各具特色，双方互补空间广阔。作为系列交流的首场活动，本次会议为两校电镜技术人员搭建了务实高效的沟通桥梁。期待双方持续深化方法创新与平台协作，不断提升服务能力，为粤港澳大湾区乃至全国基础研究与关键材料攻关提供更强有力的微观结构分析支撑。