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@校内用户，深圳校区分中心新仪器等你来约！

发布人：张博琳发布日期：2025-01-14

在学校相关职能部门的大力支持与中心老师的积极协调下，深圳校区分中心的装修改造工程已经顺利完成啦！深圳分中心新购置仪器设备共23台/套，其中14台/套设备已经陆续拆箱清点，并进入装机调试阶段，部分设备已安装完成。

在新年之际，深圳分中心的新仪器将陆续面向校内师生开放试运行，首批推出的仪器包括原子力显微镜、X射线单晶衍射仪、聚焦离子束双束电子显微镜。

大家只需登录中山大学大型科研仪器开放共享平台，选择相应的仪器并点击“送样预约”，送样后由我们中心老师操作，一站式解决测试需求，快来体验呀！

一、 扫描探针显微镜（原子力显微镜）

1. 设备信息

厂家：Bruker

型号：Dimension XR

地点：深圳校区东教学楼3栋305

2. 主要技术参数

测量模式：接触模式（Contact Mode）、智能扫描模式（ScanAsyst）、轻敲模式（Tapping Mode）、相位成像模式（Phase imaging）、抬起模式（Lift Mode, Bruker专利技术）、电场力显微镜（EFM）、表面电势显微镜（Surface Potential, KPFM）、表面磁场（MFM）、压电响应模式（PFM）、横向力/摩擦力显微镜（LFM）、力曲线/力谱测量（Force curve/Force volume）
扫描范围：90µm x 90µm x 10µm
分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率 （以对云母，石墨原子像成像表征）
Z方向噪声水平：开环控制< 0.3Å ；闭环控制< 0.35 Å（图象测试）；< 0.5Å（力测试）
XY方向噪音水平：开环控制< 0.1nm；闭环控制< 0.15nm

3. 设备特色

Peak Force QNM：在对样品表面形貌进行高分辨率成像的同时，可以对纳米力学性能（包括模量、粘附力、能量损失、样品变形量）进行成像。模量KPa~100 GPa
PFQNMHA-CR：通过接触共振模式（Contact Resonance），提供硬样品的模量测试，可实现对样品表面形貌进行高分辨率成像的同时，可以对纳米力学性能（包括模量、粘附力、能量损失、样品变形量）进行成像。1kPa to 300GPa+
XR FastTapping：升级版本的扫描器及控制系统可实现快速扫描功能，20X以上的扫描速度，可达到100Hz，配合自动样品台的高速10分钟处理5个以上样品能力

4. 应用范围

表面形貌观测：原子力显微镜可以在纳米级别上观测材料的表面形貌和粗糙度。
生物力学研究：用于高级生物力学研究，提供定量活细胞机械性能成像。
材料科学‌：在半导体和纳米功能材料研究中，用于表面形貌探测、表面电学测试以及表面力学测试等。

5. 检测送样

咨询及送样请企业微信联系龚力老师，gongli2@mail.sysu.edu.cn

预约链接：https://sharing.sysu.edu.cn/home/#/orderDetail?id=5815

二、FRX转靶X射线单晶衍射仪

1. 设备信息

厂家：日本理学Rigaku

型号：XtaLAB Synergy Custom（目前理学最强光源FR-X，2.97kW）

地点：深圳校区东教学楼3栋203b

2. 主要技术参数

光源：Cu 转靶微焦斑，最大功率2.97kW
测角仪： Kappa测角仪
面探测器： HyPix6000C, 有效面积：77.5mm × 80mm
中低温附件：牛津Cryostream1000, 控温范围80K-500K
自动化: 上样机械手

3. 应用范围

可以应用于材料、物理、化学、高分子、药物、新能源、食品、金属、环境等研究领域的分子结构分析。XtaLAB Synergy Custom系统可全自动完成数据采集、还原和处理，满足大分子晶体学研究需求，同时也适合开展化学晶体学研究，尤其是针对衍射能力弱的微小晶体的数据采集，以及有机物和天然产物绝对构型的分析，是现代大分子/小分子晶体学研究团队和一流分析实验室的理想选择。

4. 检测送样

咨询及送样请企业微信联系肖高飞老师，xiaogf@mail.sysu.edu.cn

预约链接：https://sharing.sysu.edu.cn/home/#/orderDetail?id=5818

三、聚焦离子束双束电子显微镜（FIB- SEM）

1. 设备信息

厂家：Thermo Scientific

型号：Helios 5 CX

地点：深圳校区东教学楼3栋114b

2. 主要技术参数

样品台灵活度：XY范围110mm，Z范围65mm，可在水平面内360°连续旋转，倾斜范围-15°到+90°，最大样品尺寸110mm，样品仓集成等离子清洗
图像分辨率：最高6144×4096像素
电子束分辨率：0.6 nm@15 kV
离子束分辨率：2.5 nm@30 kV
选配功能：共聚焦离子束（FIB）微观加工，气体注入系统（GIS）增强刻蚀或沉积，能谱仪（EDS）。

3. 设备特色

高分辨率快速成像：自动对焦与自动对比度调节，可为任何经验水平的用户在最短时间内获取形貌信息。
高稳定性的肖特基场发射电子枪，用于提供稳定高分辨率分析电流。
可伸缩背散射电子探测器
全自动纳米机械手
高质量、超薄TEM制样：同步SEM成像和FIB加工模式，间歇式SEM成像和FIB加工模式，用于高级、实时SEM和FIB过程监测，适用于高质量、定点TEM样品制备和截面加工。
支持直线、矩形、多边形、圆形、截面、清洁截面等多种图案化FIB加工方式；可直接导入BMP文件进行三维刻蚀和沉积。

4. 应用范围

聚焦离子束双束电子显微镜是指同时具有聚焦离子束(Focused Ion Beam，简称FIB)和扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope，简称SEM)功能的系统。通过结合相应的气体沉积装置、纳米操纵仪、各种探测器及可控的样品台等附件，成为一个集微区成像、加工、分析、操纵于一体的分析仪器，广泛应用于物理、化学、材料和新能源等众多领域。