JEM-2010HR型高分辨透射电镜

▲ 型号：JEOL JEM-2010HR     ▲ 生产厂家：日本电子株式会社

一、应用范围

        可用于无机材料、有机材料、高分子材料、聚合物、金属材料、矿物等，主要用于研究物质的微观形貌及晶体的显微结构（原子级别）与性能的关系。

二、主要技术参数及指标

1、晶格分辨率：0.34 nm

2、最高电压：200kV

3、放大倍数：x2,000—x1,500,000

4、能谱分辨率:133ev

三、样品要求

干燥固体

四、联系人

黄老师，020-39337290

五、仪器放置地点：

广州校区东校园南实验楼D102C室