应用培训报名（2025年度第42期）| JEM-ARM300F2 双球差校正透射电镜（东校园）

分析测试中心东校园分中心JEM-ARM300F2双球差校正透射电镜即将安装调试完毕，为更好服务校内师生，中心特邀请资深工程师于11月25~27日开展该仪器的首次应用培训，欢迎校内师生报名参加。

一、培训安排

1.时间/
2025年11月25日~11月27日，9:30-17:00

2.地点 /
广州校区东校园樱园4号C栋203室（理论培训）、101室（实操培训）

3.培训内容 /

4.报名人数 /
5人，有透射电镜操作经验者优先

5.报名二维码 /
扫码报名，先到先得，企业微信通知报名结果。为保证培训效果，本次培训各课题组限1人参加。

二、功能配置

1.仪器型号：JEM-ARM300F2

2.硬件配置：
(1) 电子枪：冷场发射电子枪，电压：300 kV、80 kV
(2) 球差校正器：12极子ETA TEM 和STEM球差校正器
(3) 探测器系统：
CCD：Gatan ClearView；
SAAF：全场相位衬度探测器；
EDS：158 mm2 超大窗口能谱仪系统（双能谱）。

三、主要功能

1.HRTEM：高分辨相位衬度像；

2.HAADF：原子分辨环形暗场像；

3.二次电子/背散射电子成像；

4.差分相位衬度成像；

5.元素点线面分析； 

6.形貌、元素三维重构：采集 TEM、STEM、EDX 三维图像。