应用培训报名（2025年度第33期）| 聚焦离子束双束电镜-飞行时间二次离子质谱（TEM制样技术）

分析测试中心东校园分中心聚焦离子束双束电镜-飞行时间二次离子质谱（FIB-SEM-TOF-SIMS），即将完成调试并对校内开放试运行。为了更好地服务校内师生，中心拟于5月30日开展仪器应用培训，欢迎有需求的校内师生报名参加。

      FIB-SEM联合TOF-SIMS具备强大的精细加工和微观分析功能，能够进行样品表面形貌观察、材料微纳级别定点加工与表征，进而实现表面、截面和三维分析成像及透射电镜（TEM）样品制备等。预计该设备将极大提升微区分析领域的能力，为校内师生提供更全面的分析测试服务。

扫码报名，先到先得，企业微信通知报名结果。本次培训仅面向具备扫描电镜或透射电镜使用经验的师生参加；为保证培训效果，各课题组限1人参加。

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